半導體相關試驗設備(冷熱衝擊試驗箱)的測試標準介紹

半導體(ti) 應用廣泛，相關(guan) 的試驗設備有多種，下麵簡單介紹下常見半導體(ti) 試驗設備的標準如下：

1.溫度循環（冷熱衝(chong) 擊試驗箱）參考標準：JESD22-A104

溫度範圍：-65℃~150℃

低溫衝(chong) 擊：-40℃，-55℃，-65℃

高溫衝(chong) 擊：65℃，85℃，125℃

溫度衝(chong) 擊時間小於(yu) 3min，1min

溫度保持時間30min，60min

測試時間不能少於(yu) 1000個(ge) 循環

2.熱壓器/無偏壓 HAST測試 參考標準：JESD22-A118

溫度範圍：100℃~143℃

濕度範圍：70%RH~100%RH

壓力範圍：0.5kg~3.5kg

測試時間不能少於(yu) 200小時，具體(ti) 根據用戶實際要求，有些需要達到500小時到1000小時等不同時間

3.其他測試標準：GB/T 2423.1-2001  試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法，GJB 150.3-1986 高溫試驗， 低溫試驗， GB 11158《高溫試驗箱技術條件》， IEC60068-2-14等測試標準，如需了解更多測試標準請來電谘詢。